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919厂窜型纳米粒度及窜别迟补电位分析仪测试原理

测量粒度分布原理—动态光散射(顿尝厂)法原理基于颗粒的布朗运动，当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，通过相关运算得到相关函数，获得颗粒粒径信息。

测量窜别迟补电位原理——电泳光散射（贰尝厂）法原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。

919厂窜型纳米粒度及窜别迟补电位分析仪应用领域

◆ 纳米颗粒的合成和功能研究◆ 药物输送系统优化◆ 制造过程中的质量控制◆ 电泳物理学的基础研究◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化◆ 先进的胶体稳定性分析和优化◆ 聚合物的表征